http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/88077| 題名: | Steady-State Characterization for Capture and Escape Lifetimes of 2-D Electron Gas in Light-Emitting Transistors | 作者: | Yang, Lucas Chang, Shu-Wei Wu, Chao-Hsin |
公開日期: | 2023 | 關聯: | IEEE Transactions on Electron Devices 70(7), 3675-3683 | URI: | http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/88077 | ISSN: | http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Drexel&SrcApp=hagerty_opac&KeyRecord=0018-9383&DestApp=JCR&RQ=IF_CAT_BOXPLOT | URL: | http://dx.doi.org/10.1109/ted.2023.3279055 |
| 顯示於： | 應用科學研究中心 |
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