Variation of Electronic Structures of CeAl2 Thin Films with Thickness Studied by X-ray absorption near edge structure spectroscopy

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題名:	Variation of Electronic Structures of CeAl2 Thin Films with Thickness Studied by X-ray absorption near edge structure spectroscopy
作者:	Dong, Chung-Li
公開日期:	2006
關聯:	J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom152, 1-2
URI:	http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/46691
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