Electronic States and Structural Characterization in Single-Crystal Fe-Ni-O Alloy Thin Films Grown by Molecular Beam Epitaxy

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題名:	Electronic States and Structural Characterization in Single-Crystal Fe-Ni-O Alloy Thin Films Grown by Molecular Beam Epitaxy
作者:	Chang, C. L. Chern, G. Chen, C. L. Hsieh, H. H. Dong, C. L. Pong, W. F. Chao, C. H. Chien, H. C. Chang, S. L.
公開日期:	1999
關聯:	SOLID STATE COMMUNICATIONS109, 599
URI:	http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/47582
顯示於：	物理研究所

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