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  1. Scholars Hub of the Academia Sinica
  2. 數理科學組
  3. 物理研究所
請用此 Handle URI 來引用此文件: http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/49141
題名: Variation of electronic structures of CeAl2 thin films with thickness studied by X-ray absorption near-edge structure spectroscopy
作者: C.L. Dong
K. Asokan
C.L. Chang
C.L. Chen
P.C. Lee
P.C. Chen
Y.Y. Chen
J.F. Lee
J.-H. Guo
公開日期: 2006-03
關聯: JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA 152, 1-5
URI: http://ir.sinica.edu.tw/handle/201000000A/49141
ISSN: http://gateway.isiknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Drexel&SrcApp=hagerty_opac&KeyRecord=0368-2048&DestApp=JCR&RQ=IF_CAT_BOXPLOT
URL: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0368204806000053?np=y
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